テスト設計における最近の課題と展望(設計/テスト/検証)
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概要
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LSI回路の微細化・高速化に伴いLSIテストも質的および量的な変化が求められている.質的変化については,テスト品質向上のため,従来の縮退故障テストに代表される決定的に0/1判定を行うテストだけでなく,LSIのパラメトリックな特性に着目したテストが必要となっている.これらのテストでは合否判定基準を統計的なデータに基づいて決定する必要があり,従来テストとは本質的に異なると言える.量的変換については,質的変化によるテスト数やテストデータ量の増大を抑止し,テストコストを低減することが大きな課題になっている.本報告では,最近の研究動向やITRS(International Technology Roadmap for Semiconductors)の報告を中心に,上記の動向を概観し,テスト設計の課題と展望を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-06-13
著者
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