多種クロックをもつ論理回路の組込みテスト

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概要

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多種のクロックをもつ論理回路に対し,任意のクロック間転送を実動作速度でテスト可能な,スキャンベース組込みテスト方式を提案する.提案方式では,LFSRリシード手法を拡張し,シード毎に遷移発生・応答取込みのクロック種を指定する。クロック種組合せ毎にテストすることで,テスト時におけるフロックスキューなどタイミング設計の負担を軽減できる.また,少ないテスト長,デタ量で100%の縮退故障・遷移故障を検出するために,クロック種を意識したテスト生成,シード生成方法を述べる.提案手法の有効性を考察するために,多種クロックをもつように変更したISCASベンチマーク回路に対し,テスト長やテストデータ量を評価した結果を示す.
社団法人電子情報通信学会の論文
2002-02-15

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