南雲 宇晴 | (株)日立製作所

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概要

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• 同名の論文著者
• (株)日立製作所の論文著者

関連著者

• 南雲 宇晴

  (株)日立製作所

• 西田 隆夫

  (株)日立製作所

• 中尾 教伸

  株式会社ルネサステクノロジ

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所

• 清重 賢一

  (株)日立製作所半導体グループ

• 中尾 教伸

  (株)日立製作所半導体グループ

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所半導体グループ

• 畠山 一実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部:東京都立大学大学院工学研究科:(現)(株)半導体理工学研究センター

• 上脇 美加

  (株)日立製作所中央研究所

• 南雲 宇晴

  (株)日立製作所エンタープライズサーバ事業部

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所 中央研究所

• 宮本 俊介

  (株)日立製作所

• 宮本 俊介

  日立製作所情報システム事業部試作開発センタ

• 永井 正彦

  (株)日立製作所

• 三善 正之

  (株)日立製作所

• 畠山 一実

  (株)日立製作所日立研究所

• 畠山 実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 畠山 一美

  (株)日立製作所日立研究所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

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著作論文

• 一時的観測不能領域抽出による超高速ベクトル化故障シミュレータの開発
• デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
• デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
• 故障シミュレーション高速化方式 : (2)事前故障伝搬
• 故障シミュレーション高速化方式 : (1)観測不能故障除外

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