夏目 幸一郎 | (株)日立製作所半導体グループ

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  (株)日立製作所半導体グループ

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所 中央研究所

• 畠山 一実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 畠山 一実

  (株)日立製作所日立研究所

• 中尾 教伸

  株式会社ルネサステクノロジ

• 清重 賢一

  (株)日立製作所半導体グループ

• 中尾 教伸

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• 畠山 一美

  (株)日立製作所日立研究所

• 鈴木 五郎

  (株)日立製作所

• 南雲 宇晴

  (株)日立製作所

• 伊達 博

  株式会社日立製作所日立研究所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部:東京都立大学大学院工学研究科:(現)(株)半導体理工学研究センター

• 山本 哲也

  (株)日立製作所日立研究所

• 南雲 宇晴

  (株)日立製作所エンタープライズサーバ事業部

• 岡村 芳雄

  (株)日立製作所デバイス開発センター

• 伊達 博

  (株)日立製作所日立研究所

• 畠山 実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 夏目 幸一郎

  株式会社日立製作所日立研究所

• 畠山 一実

  株式会社日立製作所日立研究所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

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著作論文

• デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
• デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
• 近傍パターン群発生によるデターミニスティックBIST方式
• 並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
• 並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
• 高密度マクロセルジェネレータMOSAIC
• 高密度マクロセルジェネレータ MOSAlC

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