伊達 博 | 株式会社日立製作所日立研究所

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関連著者

• 伊達 博

  株式会社日立製作所日立研究所

• 伊達 博

  (株)日立製作所日立研究所

• 畠山 一実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 畠山 一実

  (株)日立製作所日立研究所

• 中尾 教伸

  株式会社ルネサステクノロジ

• 中尾 教伸

  (株)日立製作所半導体グループ

• 林 照峯

  (株)日立製作所

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所半導体グループ

• 畠山 一美

  (株)日立製作所日立研究所

• 林 照峯

  三重大 大学院工学研究科

• 宮崎 政英

  半導体理工学研究センター

• 大淵 康成

  (株)日立製作所中央研究所

• 大淵 康成

  日立製作所・中央研究所

• 大淵 康成

  新情報処理開発機構新機能日立1研究室(株)日立製作所中央研究所

• 阿部 重夫

  (株)日立製作所日立研究所

• 中尾 教伸

  日立製作所日立研究所

• 伊達 博

  日立製作所日立研究所

• 宮崎 政英

  日立製作所日立研究所

• 畠山 一実

  日立製作所日立研究所

• 宮崎 政英

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• 夏目 幸一郎

  株式会社日立製作所日立研究所

• 畠山 一実

  株式会社日立製作所日立研究所

• 夏目 幸一郎

  (株)日立製作所 中央研究所

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著作論文

• 経路並列による順序回路テスト生成の並列化
• 実数値シミュレーションに基づく順序回路用並列テスト生成システム DESCARTES の故障並列に関する評価
• 並列学習操作による冗長故障判定手法
• 並列学習操作による冗長故障判定手法
• 並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
• 並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
• 非零対角要素を持つホップフィールドニューラルネットを用いたLSIモジュール配置法
• 確率的ニューラルネットによるLSIモジュール配置手法
• ニュ-ラルネットによるLSIモジュ-ル配置手法
• ニューラルネットによるLSIモジュール配置手法

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