並列局所探索法における近傍サイズの最適決定方式とその組合せ回路テスト生成への応用
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概要
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局所探索法は組合せ最適化問題を解く発見的手法のひとつであり,可能解Xの近傍にあるより良い可能解YをXに代入するという処理を行う.本論文では,特別な組合せ最適化問題を局所探索法で解く場合において,可能解Xをできるだけ速く最適解に近づけることを考える.その速度を理論的に求め,それを最大にする近傍サイズの近似式を導く.さらに,その結果を応用した組合せ回路の並列テストパターン生成手法を提案する.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1996-06-15
著者
-
伊達 博
株式会社日立製作所日立研究所
-
夏目 幸一郎
(株)日立製作所半導体グループ
-
畠山 一美
(株)日立製作所日立研究所
-
畠山 一実
(株)日立製作所半導体グループ
-
夏目 幸一郎
株式会社日立製作所日立研究所
-
畠山 一実
株式会社日立製作所日立研究所
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