宮崎 政英 | (株)日立製作所日立研究所

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概要

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関連著者

• 宮崎 政英

  (株)日立製作所日立研究所

• 畠山 一実

  (株)日立製作所日立研究所

• 畠山 一美

  (株)日立製作所日立研究所

• 彦根 和文

  (株)日立製作所日立研究所

• 畠山 一実

  (株)日立製作所半導体グループ

• 中尾 教伸

  株式会社ルネサステクノロジ

• 伊達 博

  株式会社日立製作所日立研究所

• 伊達 博

  (株)日立製作所日立研究所

• 中尾 教伸

  (株)日立製作所半導体グループ

• 宮崎 政英

  半導体理工学研究センター

著作論文

• 並列学習操作による冗長故障判定手法
• テスト時同期化技術を用いたパーシャルスキャン設計方式
• テスト時同期化技術を用いたパーシャルスキャン設計方式
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