池田 聡雄 | (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

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概要

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関連著者

• 山崎 巌

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所

• 佐藤 康夫

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部:東京都立大学大学院工学研究科:(現)(株)半導体理工学研究センター

• 池田 聡雄

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 山崎 巌

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 岩崎 一彦

  東京都立大学大学院工学研究科

• 高倉 正博

  日立エンジニアリング(株)

• 小林 誠治

  (株)日立製作所中央研究所

• 河野 正樹

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 浜本 正人

  (株)日立製作所

• 山中 宏樹

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著作論文

• 基板電圧バックバイアス状態での低電圧テストにおける短絡欠陥検出能力の評価(テスト手法, LSIのテスト・診断技術論文)
• 欠陥ベース故障診断手法

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