大規模システムLSIのテストコストを低減するat-speedロジックBISTアクセラレータ(LBA)

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概要

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大規模システムLSIのテストコスト低減を目的として、通常動作と同一速度(at-speed)で実施するロジックBISTの障害となるテスト制御信号とクロック信号の遅延増加を実効的に抑制する新回路LBAを開発した。LBAは、従来のクロックスキュー最適化法では達成不能な動作速度向上を実現するクロック周期制御回路、テスト時間の増加を抑制する2相クロックBISTコントローラ、人手設計を不要化する自動レイアウト設計方式により、回路全体を一括したat-speedテストを可能にし、低価格テスタの活用によるテストコスト低減を可能にする。
社団法人電子情報通信学会の論文
2003-01-23

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