27a-ZS-4 中速イオン散乱(MEIS)によるGe/Si(111)界面構造解析
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1992-03-12
著者
-
西岡 孝
Ntt基礎研
-
住友 弘二
NTT基礎研
-
日比野 浩樹
NTT基礎研
-
住友 弘二
Ntt物性科学基礎研究所
-
日比野 浩樹
Ntt物性科学基礎研究所
-
篠田 幸信
NTT基礎研
-
清水 延男
NTT基礎研
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