中速イオン散乱法(MEIS)と走査型トンネル顕微鏡(STM)による表面ナノ構造の解析
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概要
著者
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荻野 俊郎
横浜国立大学工学府物理情報工学専攻
-
住友 弘二
NTT物性科学基礎研究所 機能物質科学研究部 分子生体機能研究グループ
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荻野 俊郎
横国大
-
荻野 俊郎
横浜国立大学大学院工学研究院
-
住友 弘二
Ntt物性科学基礎研究所
-
張 朝暉
北京大学
-
荻野 俊郎
横浜国立大学
-
尾身 博雄
NTT物性科学基礎研究所
-
ZHANG Zhaohui
北京大学
-
尾身 博雄
Ntt物性基礎研
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