2次電子像によるSi(111)表面の(7×7)ドメイン形状観察
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概要
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- 1995-07-10
著者
-
本間 芳和
東京理科大学
-
日比野 浩樹
NTT基礎研
-
日比野 浩樹
Ntt物性科学基礎研究所
-
日比野 浩樹
Ntt 物性科学基礎研究所
-
本間 芳和
Ntt物性科学基礎研究所
-
本間 芳和
NTT境界領域研究所
-
鈴木 峰晴
Nttアドバンステクノロジ(株)
-
相沢 則行
東学大
-
鈴木 峰晴
NTT境界領域研究所
-
相沢 則行
東京学芸大学
-
相沢 則行
東京学芸大
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