GaAs分子線成長における仕事関数の走査電子顕微鏡によるその場測定
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概要
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- 2000-03-20
著者
-
大坂 次郎
Nttフォトニクス研究所
-
本間 芳和
東京理科大学
-
河村 裕一
大阪府立大学附属先端科学研究所
-
井上 直久
大阪府立大学附属先端科学研究所
-
本間 芳和
Ntt物性科学基礎研究所先端デバイス研究部
-
本間 芳和
日本電信電話(株)ntt物性科学基礎研究所
-
本間 芳和
Ntt物性基礎研
-
棚橋 克人
大阪府立大学先端科学研究所
-
東野 徒士之
大阪府立大学先端科学研究所
-
菊池 通真
大阪府立大学先端科学研究所
-
井上 直久
大阪府大先端研
-
本間 芳和
東理大
-
本間 芳和
Ntt 物性科学基礎研
-
本間 芳和
Ntt物性科学基礎研究所
-
井上 直久
大阪府大
-
井上 直久
大阪府立大学先端科学研究所
-
井上 直久
大阪府立大学 先端科学研究所
-
河村 裕一
大阪府立大学先端科学研究所
-
河村 裕一
大阪府立大先端研
-
棚橋 克人
大阪府立大学総合科学部
-
棚橋 克人
大阪府立大学先端科学研研所
-
菊池 通真
大阪府立大学先端科学研研所
-
井上 直久
大阪府立大先端研
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