本間 芳和 | Ntt 物性科学基礎研
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概要
関連著者
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本間 芳和
日本電信電話(株)ntt物性科学基礎研究所
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本間 芳和
東理大
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本間 芳和
Ntt 物性科学基礎研
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井上 直久
大阪府大
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大阪府立大学先端科学研究所
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本間 芳和
東京理科大学
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大阪府大先端研
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大阪府立大学附属先端科学研究所
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井上 直久
大阪府立大学附属先端科学研究所
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井上 直久
大阪府立大学 先端科学研究所
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河村 裕一
大阪府立大先端研
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棚橋 克人
大阪府立大学先端科学研究所
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河村 裕一
大阪府立大学先端科学研究所
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棚橋 克人
大阪府立大学総合科学部
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棚橋 克人
大阪府立大学先端科学研研所
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井上 直久
大阪府立大先端研
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本間 芳和
NTT基礎技術総合研究所
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本間 芳和
Ntt基礎総研
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大坂 次郎
Nttフォトニクス研究所
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本間 芳和
Ntt物性科学基礎研究所先端デバイス研究部
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本間 芳和
Ntt物性基礎研
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本間 芳和
Ntt物性科学基礎研究所
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井上 直久
Ntt Lsi研
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大坂 次郎
Ntt Lsi 研究所
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NTT LSI研究所
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東野 徒士之
大阪府立大学先端科学研究所
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本間 芳和
境界領域研究所
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篠原 正典
NTTマルチメディア推進本部
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篠原 正典
Nttマルチメディア事業部
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荒木 努
大阪府立大学工学部
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森本 恵造
大阪府立大学附属先端科学研究所
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大坂 次郎
NTT物性科学基礎研究所
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菊池 通真
大阪府立大学先端科学研究所
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棚走 克人
大阪府立大学先端科学研究所
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本間 芳和
NTT境界領域研究所
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井上 直久
Nttlsi研
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大坂 次郎
NTTLSI研
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本間 芳和
境界研
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森本 恵造
大阪府立大学先端科学研究所
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菊池 通真
大阪府立大学先端科学研研所
著作論文
- 結晶成長における表面制御と雰囲気制御のその場観察
- GaAs(001)表面の仕事関数のMBE成長中測定と解析
- GaAs分子線成長における仕事関数の走査電子顕微鏡によるその場測定
- SEMその場観察によるGaAsMBE成長における穴の異方的挙動と三次元島の優先核形成
- 走査電子顕微鏡その場観察によるGaAs分子線成長三次元化機構の解析
- GaAsの分子線成長における三次元成長の開始過程の走査電子顕微鏡その場観察
- GaAsの分子線成長における二次元成長・三次元成長転移の走査電子顕微鏡その場観察
- GaAsの分子線成長における成長中断時の挙動の走査電子顕微鏡その場観察
- 化合物半導体の分子線エピタキシャル成長過程の走査電子顕微鏡その場観察
- 30a-PS-27 GaAsのMBE成長における二次元核形成・成長サイクルのSEMその場観察
- 13p-Y-1 MBE成長機構のSEMその場観察による検討
- 27pC14 GaAsのMBE成長の高分解能SEMその場観察(気相成長IV)
- 28a-YW-12 GaAsMBE成長のSEMその場観察 : モノレイヤ深さの穴の熱処理による消滅