本間 芳和 | Ntt基礎総研
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概要
関連著者
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本間 芳和
Ntt基礎総研
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本間 芳和
NTT基礎技術総合研究所
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本間 芳和
東京理科大学
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本間 芳和
日本電信電話(株)ntt物性科学基礎研究所
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本間 芳和
東理大
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本間 芳和
Ntt物性基礎研
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河村 裕一
大阪府立大学附属先端科学研究所
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井上 直久
大阪府立大学附属先端科学研究所
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井上 直久
大阪府大先端研
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本間 芳和
Ntt 物性科学基礎研
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井上 直久
大阪府大
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井上 直久
大阪府立大学先端科学研究所
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井上 直久
大阪府立大学 先端科学研究所
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河村 裕一
大阪府立大先端研
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棚橋 克人
大阪府立大学先端科学研究所
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河村 裕一
大阪府立大学先端科学研究所
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棚橋 克人
大阪府立大学総合科学部
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棚橋 克人
大阪府立大学先端科学研研所
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富田 雅人
Ntt基礎総研
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井上 直久
大阪府立大先端研
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相澤 則行
東京学芸大学物理学
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富田 雅人
NTT
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山口 浩司
NTT基礎物性研
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相澤 則行
東学大
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山口 浩司
三菱重工業(株)
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荻野 俊郎
横国大
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荻野 俊郎
横浜国立大学大学院工学研究院
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富田 雅人
NTT生活環境研究所
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富田 雅人
Ntt基礎技術総合研究所
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富田 雅人
Ntt 生活環境研
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荻野 俊郎
NTT基礎研究所
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相沢 則行
東学大
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富田 雅人
Ntt基礎総合技術研究所
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相澤 則行
東京学芸大学教育学部自然科学系基礎自然科学講座物理科学分野
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永田 忠博
独立行政法人食品総合研究所
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日比野 浩樹
NTT基礎研
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篠原 正典
NTTマルチメディア推進本部
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篠原 正典
Nttマルチメディア事業部
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荒木 努
大阪府立大学工学部
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森本 恵造
大阪府立大学附属先端科学研究所
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鈴木 峰晴
NTTアドバンステクノロジ
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永田 忠博
農林水産省茶業試験場
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永田 忠博
食総研
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永田 忠博
農水省食品総合研究所
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日比野 浩樹
Ntt物性科学基礎研究所
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日比野 浩樹
Ntt 物性科学基礎研究所
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本間 芳和
Ntt物性科学基礎研究所
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本間 芳和
NTT境界領域研究所
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鈴木 峰晴
Nttアドバンステクノロジ(株)
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富田 雅人
東学大
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本間 芳和
NTT電応研
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富田 雅人
NTT電応研
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林 孝好
NTT電応研
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富田 雅人
NTT電子応用研究所
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林 孝好
NTT電子応用研究所
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本間 芳和
NTT電子応用研究所
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茂木 カデナ
NTTアドバンステクノロジ(株)厚木分析センタ
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相澤 則行
東京学芸大
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茂木 カデナ
Nttアドバンステクノロジ(株) 材料分析センタ
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森本 恵造
大阪府立大学先端科学研究所
著作論文
- 結晶成長における表面制御と雰囲気制御のその場観察
- '97分析機器展見聞記
- 走査電子顕微鏡その場観察によるGaAs分子線成長三次元化機構の解析
- GaAsの分子線成長における三次元成長の開始過程の走査電子顕微鏡その場観察
- GaAsの分子線成長における二次元成長・三次元成長転移の走査電子顕微鏡その場観察
- GaAsの分子線成長における成長中断時の挙動の走査電子顕微鏡その場観察
- 化合物半導体の分子線エピタキシャル成長過程の走査電子顕微鏡その場観察
- 28a-T-7 Si(111)表面上Ge固相エピタキシに対するサーファクタントの効果II
- 31p-S-4 Si(111)表面のGe固相エピタキシャル成長に対するsurfactantの効果
- 24a-PS-33 二次電子像によるSi清浄表面の単原子層ステップ観察
- 3a-TA-3 超高真空分析電子顕微鏡の開発
- Si(111)表面の分光電子観察
- シリコン表面の原子ステップ配列制御 -ナノ構造の集積化へ向けて-
- 5a-H-9 Si(111)表面に形成したクレーター形状の熱処理による変化
- 24pW-6 Si(111)表面における電界誘起ステップバンチングのサイズスケーリング
- 走査型電子顕微鏡による表面原子層のその場観察
- 26p-P-3 GaAs(111)A基板上MBE成長過程の実空間観察
- 超高真空SEMによる表面現象のその場観察
- (111)A基板上GaAs成長過程の単分子層レベル実空間観察 : 招待講演
- Si(111)表面の(7×7)ドメイン形状のステップ方位依存性