1-3 電流量減少を抑制するダブルゲートFEA構造の提案(第1部門 情報ディスプレイ&ストレージ)
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概要
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When electron beam was focused using traditional double-gated FEA structure, the emission current was decreased. We report that the scheming height of focusing electrode was enable to control degradation of emission current. We optimized the FEA structure, and the degradation of emission current was improved.
- 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2007-11-27
著者
-
長尾 昌善
産業技術総合研究所
-
金丸 正剛
産業技術総合研究所
-
安室 千晃
産業技術総合研究所
-
根尾 陽一郎
静岡大学電子工学研究所
-
三村 秀典
静岡大学電子工学研究所
-
堺 俊克
NHK放送技術研究所
-
青木 徹
静岡大学電子工学研究所
-
斎藤 信雄
NHK放送技術研究所
-
斎藤 信雄
(株)国際電気通信基礎技術研究所
-
惣田 崇志
静岡大学電子工学研究所
-
根尾 陽一郎
静岡大学 電子工学研究所
-
惣田 崇志
静岡大学 電子工学研究所
-
金丸 正剛
電総研
-
堺 俊克
NHK技研
-
金丸 正剛
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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