C-4-3 光励起電流測定を用いた活性層近傍の濃度分析(C-4. レーザ・量子エレクトロニクス(半導体レーザ), エレクトロニクス1)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-09-07
著者
-
加藤 和利
NTTフォトニタス研究所
-
須郷 満
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
竹下 達也
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
加藤 和利
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
加藤 和利
Nttフォトニクス研究所
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