C-4-8 OBICモニタを用いたDFBレーザの内部劣化の解析(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-03-07
著者
-
加藤 和利
NTTフォトニタス研究所
-
須郷 満
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
NTTフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
竹下 達也
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
加藤 和利
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
加藤 和利
Nttフォトニクス研究所
-
山本 〓夫
Nttエレクトロニクス(株)
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社 NTTフォトにクス研究所
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