高信頼SIBH構造1.5μmDFBレーザ(超過高速伝送・変復調技術,超高速光・電子デバイス技術,広帯域WDMデバイス技術,受光デバイス,一般)
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概要
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95℃で1000FITs以下の信頼度をもち、さらに、-20℃から100℃の温度範囲でエラーフリー・2.5Gbps・80km伝送能力を併せ持つアンクルードDFBレーザを実現した。長期信頼性は第二ステージ劣化のt^<0.5>劣化を抑制することにより実現した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-10-05
著者
-
東盛 裕一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
須郷 満
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
NTTフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
田所 貴志
NTTフォトニクス研究所
-
田所 貴志
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
竹下 達也
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
Ntt フォトニクス研究所
-
山本 ミツ夫
Nttエレクトロニクス(株)光半導体事業部
-
東盛 裕一
日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所
-
田所 貴志
日本電信電話(株)NTTフォトニクス研究所:(現)東京電機大学
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社 NTTフォトにクス研究所
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