光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析(光部品の実装・信頼性,一般)
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概要
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光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InPSIBHを導入したDFBレーザは85℃の高温で長期安定動作することが確認された。OBIC測定法によって、SCH層の劣化は活性層の劣化に比べ大きいことがわかった。レーザの劣化機構は断面垂直方向の拡散によるものであると傍証される。
- 2008-04-11
著者
-
近藤 康洋
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
須郷 満
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
NTTフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
竹下 達也
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社 NTTフォトにクス研究所
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