C-4-9 OBICを用いた半導体ファブリ・ペローレーザの摩耗故障の解析(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-08-29
著者
-
加藤 和利
NTTフォトニタス研究所
-
赤津 祐史
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
須郷 満
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
伊藤 猛
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
竹下 達也
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
加藤 和利
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
加藤 和利
Nttフォトニクス研究所
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