光アクセスシステム用PLC型光部品の信頼性
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概要
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光アクセスシステム用のPLC型光スプリッタとPLCハイブリッド集積型WDM光送受信モジュールの信頼性を評価し, 以下のことを明らかにした.(1)光スプリッタについて各種高温高湿環境で寿命試験を行い, 60℃40%RHの環境で30年使用時の推定故障率が220FIT以下という良好な結果を得た.(2)光送受信モジュールの誘電体多層膜フィルタ挿入部について75℃90%RHで高温高湿保存試験を行い, 7, 900時間まで光学特性の劣化が無いことを確認した.(3)光送受信モジュールの光半導体搭載部について75℃90%RHで高温高湿バイアス試験を行い, 2, 700時間まで送受信特性の劣化が無いことを確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-03-13
著者
-
加藤 和利
NTTフォトニタス研究所
-
加藤 邦治
Nttエレクトロニクス株式会社
-
東盛 裕一
NTT光エレクトロニクス研究所
-
井上 靖之
NTT光エレクトロニクス研究所
-
山田 泰文
NTT光エレクトロニクス研究所
-
高戸 範夫
NTT光エレクトロニクス研究所
-
加藤 和利
NTT光エレクトロニクス研究所
-
加藤 邦治
NTT光エレクトロニクス研究所
-
塙 文明
NTT光エレクトロニクス研究所
-
加藤 和利
Nttフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
Ntt フォトニクス研究所
-
山田 泰文
Nttエレクトロニクス
-
塙 文明
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所:(現)nttエレクト
-
花房 廣明
NTT光エレクトロニクス研究所
-
山田 泰久
Ntt光エレクトロニクス研究所
-
高戸 範夫
NTTエレクトロニクス
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