C-4-17 1.55μm帯埋込み型VCSELの熱解析(C-4. レーザ・量子エレクトロニクス, エレクトロニクス1)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-03-07
著者
-
東盛 裕一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
岡本 浩
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
黒崎 武志
日本電信電話(株) フォトニクス研究所
-
浅香 航太
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
大礒 義孝
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
黒崎 武
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
黒崎 武志
NTT光エレクトロニクス研究所
-
東盛 裕一
Ntt フォトニクス研究所
-
黒崎 武志
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
黒崎 武志
日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
Ntt フォトニクス研
-
浅香 航太
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
伊賀 龍三
日本電信電話株式会社 NTTフォトにクス研究所
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