スポットサイズ変換付き半導体光増幅器(ss-SOA)の劣化評価
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概要
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半導体光増幅器(SOA)は小型で集積化が容易という利点から光ゲートや光波長変換デバイスとしての応用が盛んに研究されており、高機能光回路のキーデバイスとして注目されている。実用化という観点からはデバイスの高信頼化は重要な達成課題である。しかしSOAの信頼性はまだ十分には検討なされていない。我々は従来より、外部光回路との接続が容易なスポットサイズ変換部(SS)を集積した偏波無依存なSOA(SS-SOA)の信頼性を検討してきた。今回、強制劣化試験によるSS-SOAの特性(利得、増幅自然放出光(ASE)スペクトル、ASE出力、偏波依存性)の変化、さらに特性変化間の相関関係について検討を加えた。これらの結果を基に、キャリア密度の低下が利得低下の主要因であること、劣化モニターに利用する特性パラメータとしてASE出力が適していることを明らかにした。偏波依存性はデバイスの劣化に対し影響を受けないこと、さらに、約1万時間の長期にわたるSS-SOAの安定動作が確認できた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-04-19
著者
-
伊藤 敏夫
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
大橋 弘美
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
曲 克明
NTT光エレクトロニクス研究所
-
曲 克明
日本電信電話(株)NTTフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
Ntt フォトニクス研究所
-
上岡 裕之
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
東盛 裕一
日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所
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