C-4-10 OBIC法を使ったp-/n-InP埋込み構造FPレーザの第一段劣化の解析(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2010-08-31

著者

• 竹下 達也

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

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