28aXT-5 ラフネスを導入したSi表面上におけるAu原子の拡散(格子欠陥・ナノ構造)(領域10)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2004-03-03

著者

• 大野 裕

  東北大金研

• 市橋 鋭也

  NEC基礎研究所

• 竹田 精治

  阪大院理

• 鳥越 和尚

  阪大院理

• 大野 裕

  阪大院理

• Takeda Shingo

  Faculty Of Science Himeji Institute Of Technology

• Takeda Shingo

  Graduate School Of Science Himeji Inst. Of Tech.

• 竹田 精治

  大阪大学・大学院理学研究科

• 竹田 精治

  阪大・教養

• Ohno Y

  Jst‐presto Saitama Jpn

• Ohno Yoshikazu

  Ulsi Laboratory Mitsubishi Electric Corporation

• 市橋 鋭也

  Nec基礎・環境研究所

• Okamoto Yasunori

  Research And Headquarters Kubota Corporation

• Takeda Shuzaburo

  Department Of Electro-photo-optics School Of Engineering Tokai University

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