Suppression of Hysteresis in Carbon Nanotube Field-Effect Transistors : Effect of Contamination Induced by Device Fabrication Process

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概要

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• Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
• 2006-06-30

著者

• 大野 裕

  東北大金研

• 水谷 照吉

  愛知工業大学電気工学科

• Ohno Y

  Jst‐presto Saitama Jpn

• Ohno Yoshikazu

  Ulsi Laboratory Mitsubishi Electric Corporation

• MIZUTANI Takashi

  Department of Quantum Engineering, Nagoya University

• Mizutani Takashi

  Fundamental Research Laboratories Nec Corporation

• Mizutani Takashi

  Ntt Lsi Laboratories

• SHIMAUCHI Hideki

  Department of Quantum Engineering, Nagoya University

• OHNO Yutaka

  Department of Quantum Engineering, Nagoya University

• KISHIMOTO Shigeru

  Department of Quantum Engineering, Nagoya University

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