20pAH-7 X線回折顕微法によるシリコン結晶中の成長時導入転位の特性の解明(20pAH 格子欠陥・ナノ構造(転位・面欠陥・電子論),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2012-08-24

著者

• 大野 裕

  東北大金研

• 米永 一郎

  東北大金研

• 徳本 有紀

  東北大金研

• 沓掛 健太朗

  東北大金研

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