20aYN-4 シリコン・ナノワイヤーの価電子励起過程のTEM-EELS分析(格子欠陥・ナノ構造(分光法・炭素系物質),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2005-08-19
著者
-
竹田 精治
大阪大学大学院理学研究科
-
佐藤 庸平
東北大多元研
-
寺内 正己
東北大多元研
-
寺内 正己
東北大学多元物質科学研究所
-
佐藤 康平
東北大多元研
-
吉川 純
阪大院理
-
竹田 精治
阪大院理
-
寺内 正巳
東北大学
-
吉川 純
東北大多元研:aist:阪大院理学研究科
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