Ge濃度を制御したSi_<1-x>Ge_xの格子定数測定

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概要

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• 2006-12-20

著者

• 津田 健治

  東北大多元研

• 寺内 正己

  東北大多元研

• 田中 通義

  東北大多元研

• 田中 通義

  東北大 科研

• 津田 健治

  東北大学多元物質科学研究所

• 赤荻 隆之

  旭化成株式会社基盤技術研究所

• 寺内 正己

  東北大学多元物質科学研究所

• 田中 通義

  東北大学多元物質科学研究所

• 寺内 正巳

  東北大学

• Tanaka M

  Sony Corp. Atsugi Jpn

• Tanaka M

  Department Of Physics Faculty Of Science Osaka University

• Tanaka Motoyuki

  Depatment Of Physics Faculty Of Science Okayama University

• Tsuda Kenji

  Fujitsu Ltd.

• Tanaka M

  Univ. Tokyo Tokyo

• Tanaka M

  Okayama Univ. Okayama

• Tanaka Midori

  Faculty Of Sciences Ochanomizu University

• Tanaka Midori

  Depatment Of Physics Ochanomizu University

• Tsuda K

  Tohoku Univ. Sendai

• Tanaka Midori

  Department Of Physics Ochanomizu University

• Tanaka M

  Kobe Tokiwa Junior College

• Tanaka Misdori

  Department Of Physics Faculty Of Science Ochanomizu University

• 田中 雅慶

  九大

• TANAKA Masaaki

  Department of Physics, Kawasaki University of Medical Welfare

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