28pXM-3 Si中Asドープ領域から得た収束電子回折図形の定量解析(X線・粒子線(電子線))(領域10)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2004-03-03
著者
-
津田 健治
東北大多元研
-
寺内 正己
東北大多元研
-
津田 健治
東北大学多元物質科学研究所
-
寺内 正己
東北大学多元物質科学研究所
-
川村 和郎
富士通(株)
-
三ッ石 創
東北大多元研
-
川村 和郎
富士通研究所
-
三ッ石 創
東北大学多元研
-
Tsuda Kenji
Fujitsu Ltd.
-
Tsuda K
Tohoku Univ. Sendai
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