21aYM-12 不純物注入Siから得た収束電子回折図形の定量解析(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-08-19

著者

• 津田 健治

  東北大多元研

• 寺内 正己

  東北大多元研

• 寺内 正己

  東北大学多元物質科学研究所

• 川村 和郎

  富士通(株)

• 三ッ石 創

  東北大多元研

• 寺内 正巳

  東北大学

• Tsuda Kenji

  Fujitsu Ltd.

• Tsuda K

  Tohoku Univ. Sendai

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