19aXC-2 収束電子回折法によるCuM_2O_4(M=Fe,Cr)の電子密度分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 津田 健治

  東北大多元研

• 蔡 安邦

  東北大多元研

• 津田 健治

  東北大学多元物質科学研究所

• 小形 曜一郎

  Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University

• 小形 曜一郎

  東北大多元研

• 木村 大資

  東北大多元研

• 亀岡 聡

  東北大多元研

• 小形 曜一郎

  Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University

• 蔡 安邦

  東北大学多元物質科学研究所

• 蔡 安邦

  東北大学 多元物質科学研究所

• 蔡 安邦

  金属材料技術研究所

• Tsuda Kenji

  Fujitsu Ltd.

• Tsuda K

  Tohoku Univ. Sendai

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