200℃動作SiCスイッチングモジュールの開発
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概要
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In this paper, a SiC module in which the devices are operated beyond the junction temperature of 200°C was designed, manufactured and tested. The module was designed by considering the heat-resistance of each constituent material to realize a continuous heat distribution. We found that the ratio of voids in the die-bonding material can reduced by about 5% in volume by choosing the reflow conditions of the temperature profile and the environmental condition for Au–Sn and Sn–Ag–Cu lead-free solders. The 200°C operation of the designed module was confirmed by directly feeding a current into the SiC chip to elevate the temperature of the chip. In order to demonstrate real 200°C SiC device operation with the present module, we designed and assembled a DC–DC converter with a SiC-RESURF-JFET and SiC-SBD. The present module was successfully operated at a chip temperature of 200°C in the DC–DC converter.
著者
-
仲川 博
独立行政法人産業技術総合研究所
-
徳田 人基
住友電気工業(株)
-
林 秀樹
住友電気工業株式会社オプトエレクトロニクス研究所
-
並川 靖生
住友電気工業(株)基板研
-
築野 孝
住友電気工業(株)伊丹研究所
-
星野 孝志
住友電気工業株式会社半導体技術研究所
-
並川 靖生
住友電気工業
-
築野 孝
住友電気工業
-
星野 孝志
住友電気工業
-
徳田 人基
住友電気工業
-
田中 保宣
(独)産業技術総合研究所
-
仲川 博
(独)産業技術総合研究所
-
青柳 昌宏
(独)産業技術総合研究所
-
福田 憲司
(独)産業技術総合研究所
-
大橋 弘通
(独)産業技術総合研究所
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