C-12-33 オンチップ昇圧向けブーストコンバータにおけるMOSダイオード損失の検討(C-12. 集積回路ACD(メモリ・電源・ばらつき),一般セッション)

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概要

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• 2008-03-05

著者

• 竹内 健

  東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻

• 竹内 健

  東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース

• 竹内 健

  東京大学

• 石田 光一

  東京大学

• 高宮 真

  東京大学

• 桜井 貴康

  東京大学

• 高宮 真

  東京大学生産技術研究所

• 安福 正

  東京大学

• 桜井 貴康

  東大

• 高宮 真

  東京大学 生産技術研究所

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