Origin of Dark Regions in Scanning Tunneling Microscopy Images Formed by Thermal Oxidation of Si(111) Surface

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 1994-07-15

著者

• Tabe Michiharu

  Ntt Lsi Laboratories:(present Address)research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Tabe Michiharu

  Ntt Lsi Laboratories

• Ono Yukinori

  Ntt Lsi Laboratories

• KAGESHIMA Hiroyuki

  NTT LSI Laboratories

• OHNO Takahisa

  NTT LSI Laboratories

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