(311)B基板上に形成したInGaAs/GaAs面発光レーザにおける高速変調時の偏波特性
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概要
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面発光レーザの偏波制御を目的として, GaAs(311)B基板上に波長0.98μm帯のInGaAs/GaAs面発光レーザを製作した. その面発光レーザを用いて, 2.5Gbits/s擬似ランダム信号による高速変調実験を行った. 発振偏波モードのみを選択的に受光したときにも, 偏波面の揺らぎによる誤り率の大きな劣化は認められず, 安定な偏波動作を実証した. また, 10Gbits/s変調時にもDC時とあまり変化がなく直交偏波抑圧比25dB以上あることを確認した. 次に活性領域の微小化を進め横モードを単一化したデバイスを製作し, 35dB以上の横モード抑圧比, 25dB以上の直交偏波抑圧比をもつ完全単一モード面発光レーザを傾斜基板を使い初めて実現した. このデバイスによる5GHzの正弦波変調実験を行い, 高速変調時においても35dBの横モード抑圧比と11dBの直交偏波抑圧比をもつことを示し, 高速変調時における直交偏波抑圧比劣化現象の存在を初めて指摘した.
- 1999-07-25
著者
-
品田 聡
東京工業大学精密工学研究所マイクロシステム研究センター
-
荒井 昌和
東京工業大学精密工学研究所マイクロンステム研究センター
-
西山 伸彦
東京工業大学 精密工学研究所
-
小山 二三夫
東京工業大学精密工学研究所
-
伊賀 健一
東京工業大学精密工学研究所
-
西山 伸彦
Corning Incorporated
-
西山 伸彦
東京工業大学 理工学研究科 電気電子工学専攻
-
小山 二三夫
東京工業大学精密工学研究所マイクロシステム研究センター
-
小山 二三夫
東京工業大学
-
伊賀 健一
東京工業大学
-
羽鳥 伸明
東京工業大学精密工学研究所
-
水谷 章成
東京工業大学精密工学研究所
-
西山 伸彦
東京工業大学
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