GaN系青色面発光レーザ用共振器の形成と評価(<小特集>紫外発光材料の現状と将来)
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概要
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We present the design and fabrication of highly reflective and low loss multilayer dielectric mirrors (SiO_2 /ZrO_2) for GaN based vertical cavity surface emitting lasers (VCSELs). We consider two types of VCSEL structures; one consists of AlN/GaN DBR and SiO_2/ZrO_2 DBR on a sapphire substrate. A resonant emission from a photo-pumped GalnN/GaN vertical cavity structure with a cavity length of 1.9pm has been demonstrated. The other consists of two dielectric mirrors (SiO_2/ZrO_2) with a polished thin sapphire substrate. A resonant emission from a photo-pumped GalnN/GalnN vertical cavity with a spectral line width of 3.8 nm has been demonstrated. Also, we propose a new structure using lateral growth on dielectric mirrors as a bottom reflector. We have demonstrated and characterized the thin GalnN/GaN 10 MQWs fabricated by removing a sapphire substrate with UV light irradiation for making a micro-cavity structure. The PL properties of standing-alone QWs show no noticeable degradation of QWs after the removing process. We pointed out the importance of the flatness of removed interfaces.
- 日本結晶成長学会の論文
- 2002-09-20
著者
-
伊賀 健一
日本学術振興会
-
小山 二三夫
東京工業大学精密工学研究所
-
坂口 孝浩
東京工業大学精密工学研究所
-
伊賀 健一
東工大精研
-
小山 二三夫
東京工業大学精密工学研究所マイクロシステム研究センター
-
小山 二三夫
東京工業大学
-
伊賀 健一
東京工業大学
-
坂口 孝浩
東京工業大学精密工学研究所マイクロシステム研究センター
-
坂口 孝浩
東京工業大学 精密工学研究所
-
坂口 孝浩
東京工業大学
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