Modelling of VCSELs Including Carrier Diffusion and Diffraction Losses
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概要
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The vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) is a promising light source for future communication systems, due mainly to its high coupling efficiency to optical fibres, integratability, and low-threshold capability. However, several phenomena such as light diffraction or carrier diffusion may limit the threshold current, as will be theoretically shown in this paper.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-11
著者
-
小山 二三夫
東京工業大学精密工学研究所
-
伊賀 健一
東京工業大学精密工学研究所
-
小山 二三夫
東京工業大学
-
伊賀 健一
東京工業大学
-
向原 智一
東京工業大学精密光学研究所
-
向原 智一
東京工業大学精密工学研究所
-
ハンス ビシェシュール
東京工業大学 精密工学研究所
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