PtおよびAu下地層を使用したBaフェライト薄膜の作製
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概要
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Ba ferrite films with excellent c-axis orientation were deposited on Au(111) and Pt(111) underlayers at substrate temperatures T_s higher than 500℃. C-axis orientation was also achieved by depositing the films at T_s in the range from 300℃ to 400℃ and then annealing in air. The specimen films exhibited low perpendicular coercivity in the range from 0.5 to 0.8kOe. The surface of as-deposited BaM/Au film looked rough, and the in-plane coercivity H_<c//> was high. For as-deposited BaM/Pt film, the average center-line roughness R_a was as small as about 1.7nm, and the perpendicular and in-plane coercivity were 2.5kOe and 0.3kOe, respectively. These results suggested that it might be possible to use BaM/Pt for a perpendicular magnetic recording layers.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 1999-04-15
著者
-
中川 茂樹
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
中川 茂樹
東京工業大学
-
直江 正彦
東京工業大学 電子物理工学専攻
-
直江 正彦
東京工業大学大学院 理工学研究科 電子物理工学専攻
-
直江 正彦
東京工業大学工学部
-
直江 正彦
Dept. Of Physical Electronics Faculty Of Engineering Tokyo Institute Of Technology
-
松下 伸広
東京工大 応用セラミックス研
-
松下 伸広
東京工業大学 応用セラミックス研究所
-
直江 正彦
東工大・工
-
直江 正彦
東京工業大学
-
松下 伸広
東京工業大学
-
一瀬 誠
東京工業大学工学部電子物理工学科
-
村社 智宏
東京工業大学工学部電子物理工学科直江・中川研究室
-
村社 智宏
東京工業大学工学部電子物理工学科
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