上野 啓司 | 埼玉大理
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概要
関連著者
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上野 啓司
埼玉大理
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小間 篤
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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Ueno K
Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation
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上野 啓司
東大院理
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小間 篤
東大院理
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飯泉 謙一
東大院新領域
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UENO Keiji
Department of Chemistry, Faculty of Engineering, Gunma University
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斉木 幸一朗
東大院創域
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飯泉 謙一
東大院理
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KOMA Atsushi
Department of Chemistry, The University of Tokyo
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上野 啓司
東大理
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小間 篤
東大理
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斉木 幸一朗
東大理
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上野 啓司
埼玉大院理工
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SAIKI Koichiro
Department of Chemistry, The University of Tokyo
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木口 学
東工大院理工
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斉木 幸一朗
東大新領域
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小間 篤
東大・理
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上野 啓司
東大・理
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小野木 亮
埼玉大理
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小間 篤
東京大学大学院理学系研究科化学専攻
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上野 啓司
東京大学大学院理学系研究科化学専攻
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Ueno Keiji
Department Of Chemistry Faculty Of Engineering Gunma University
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Koma Atsushi
Department Of Applied Physics University Of Tokyo
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斉木 幸一朗
東大院理
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小間 篤
東京大学大学院理学系研究科
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斉木 幸一朗
東大・理
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Saiki Koichiro
Department Of Applied Physics Faculty Of Engineering The University Of Tokyo
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太田 俊明
東大理
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太田 俊明
立命館大学SRセンター
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木口 学
東工大理工:jstさきがけ
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吉川 元起
東大理
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中井 郁代
東大理
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池田 進
東大新領域
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木口 学
北大理
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近藤 寛
東大理
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木口 学
東大新領域
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KIGUCHI Manabu
Department of Complexity Science and Engineering, The University of Tokyo
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片山 正士
東大院理
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城田 はまな
東大院理
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中原 伴徳
東大院理
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林 利行
東大院理
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吉川 元起
東北大金研
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近藤 寛
慶應義塾大学理工学部化学科
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ABE Hideki
Department of Ophthalmology, Chiba University Hospital
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中井 郁代
京都大学大学院理学研究科化学専攻
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吉川 元起
東北大学金属材料研究所
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吉川 元起
東京大学大学院理学系研究科
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阿部 重臣
埼玉大理
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Abe H
Hokkaido Red Cross Blood Center
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Abe Hideki
早稲田大学理工学総合研究センター
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Abe Hideki
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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Yamada Y
Department Of Quantum Science And Energy Engineering Tohoku University
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Yoshida Y
Department Of Energy Engineering And Science Nagoya University
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河野 孝臣
東大理
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Yamada Y
Akita Univ. Akita Jpn
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Yamada Yuh
National Research Institute For Metals
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飯泉 謙一
東大・理
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太田 俊昭
東大理
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Yokoyama Toshifumi
Storage Media Systems Development Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
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Kishimoto K
Nec Corp. Kanagawa Jpn
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SASAKI Kentaro
Department of Chemistry, The University of Tokyo
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Abe H
Semiconductor Technology Development Group Semiconductor Solutions Network Company Sony Corporation
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Yokoyama T
Storage Media Systems Development Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
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Gomi H
Nec Corp. Kanagawa Jpn
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佐々木 健太郎
東大・理
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Abe H
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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Kawamoto Hideaki
Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation
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Yokoyama T
Tokai Univ. Kanagawa Jpn
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Abe Hideki
Department Of Chemical Pharmaceutical Science Tohoku Pharmaceutical University
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Abe Hideki
Department Of Biological Sciences Graduate School Of Science The University Of Tokyo
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Yokoyama Yoshihiko
Superconductivity Research Laboratory, International Superconductivity Technology Center
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青木 秀夫
東京大学理学系研究科
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藤森 淳
東大理
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小林 孝嘉
東京大学理学系研究科
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牧野 淳一郎
国立天文台
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島田 敏宏
東大理
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島田 敏宏
東京大学大学院理学系研究科化学専攻
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山本 智
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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酒井 英行
東大理
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三谷 洋興
北陸先端大
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岩佐 義宏
北陸先端大
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岡 良隆
東大・理・動物
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岡 良隆
東京大学大学院理学系研究科
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岡 良隆
東大・院・理・附属臨海実験所
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三谷 忠興
北陸先端大
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内野 康訓
東大院理
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稲田 康平
北陸先端大
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永井 清恵
北陸先端大
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藤原 宏平
理研
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吉井 賢資
東大・理
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藤原 宏平
東大新領域
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酒井 志朗
ウィーンエ科大
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藤原 英明
東京大学大学院理学系研究科天文学専攻
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宮寺 智彦
東大理
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小野 木亮
埼玉大理
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圓谷 志郎
東大新領域
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中原 弘雄
埼玉大理
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園谷 志郎
東大新領域
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斉木 幸一朗
東京大学大学院 新領域創成科学研究科 複雑理工学専攻
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山本 義朗
東大理
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KATAYAMA Masao
Department of Chemistry, The University of Tokyo
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NAKAYAMA Manabu
Department of Complexity Science & Engineering, Graduate School of Frontier Sciences, The University
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FUJIWARA Kohei
Department of Complexity Science & Engineering, Graduate School of Frontier Sciences, The University
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SHIMADA Toshihiro
Department of Chemistry, Graduate School of Science, The University of Tokyo
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中山 学
東大新領域
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島田 敏宏
東大院理
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上野 啓司
埼玉大学理学部基礎化学科
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Dai Z.R.
Univ.Washington
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大内 二三夫
Univ.Washington
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斉木 幸一郎
東大院創域
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野崎 久義
University Of Tokyo
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野崎 久義
国立環境研究所
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宮寺 哲彦
理研
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森 朋彦
豊田中研
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山本 秀樹
東大理
-
森 朋彦
東大理
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吉井 賢資
東大理
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藤川 安仁
東大理
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宮原 ひろ子
東大・学振
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藤川 安仁
東京大学大学院理学系研究科化学専攻
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井上 宏昭
東大院理
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木口 学
東大院新領域
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圓谷 志郎
物質・材料研究機構
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高 衛
東大理
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Liu Kuang-yu
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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Kishimoto Koji
Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation
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笹木 敬司
北海道大学電子科学研究所
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Kataoka Kotaro
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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斉木 幸一郎
東大理
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KISHIMOTO Koji
NEC Corporation, ULSI Device Development Laboratories
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Kishimoto Koji
Nec Corporation Ulsi Device Development Laboratories
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YOKOYAMA Takashi
ULSI Device Development Laboratories, NEC Corporation
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YAMADA Yoshiaki
VLSI Manufacturing Engineering Division, NEC Corporation
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USAMI Tatsuya
ULSI Device Development Laboratories, NEC Corporation
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KAWAMOTO Hideaki
ULSI Device Development Laboratories, NEC Corporation
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UENO Kazuyoshi
ULSI Device Development Laboratories, NEC Corporation
-
GOMI Hideki
ULSI Device Development Laboratories, NEC Corporation
-
YOKOYAMA Takashi
NEC Corporation, ULSI Device Development Laboratories
-
YAMADA Yoshiaki
NEC Corporation, ULSI Device Development Laboratories
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KAWAMOTO Hideaki
NEC Corporation, ULSI Device Development Laboratories
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GOMI Hideki
NEC Corporation, ULSI Device Development Laboratories
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UENO Kazuyoshi
NEC Corporation, ULSI Device Development Laboratories
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Gomi Hideki
Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation
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Usami Tatsuya
Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation
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磯部 寛之
東北大 大学院理学研究科
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斉木 幸一郎
東大創域
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林 利行
東大・理
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レア トーマス
東大理
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須貝 真子
東大理
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FUJIKAWA Yasunori
Department of Chemistry, The University of Tokyo
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劉 光佑
東大理
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Fujikawa Yasunori
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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Yokoyama Takashi
Ulsi Device Development Division Nec Corporation
著作論文
- 研究ニュース
- 25aS-4 La@C_薄膜の電子エネルギー損失スペクトル
- 27aWB-5 SiO_2上に成長したペンタセン薄膜の成長初期過程における分子配向(表面・界面構造, ダイナミクス,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 26pXC-7 重合方向を制御した長鎖ジアセチレン誘導体LB膜のNEXAFS解析(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 26pYK-6 有機FETのtime of flight移動度測定(FET,領域7(分子性固体・有機導体))
- Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Study of LiBr/Si(001) Heterostructure
- Accumulation and Depletion Layer Thicknesses in Organic Field Effect Transistors
- 22pXG-2 ペンタセン薄膜における電界効果移動度の膜厚依存性
- 表面不活性化シリコン基板上における異方的有機薄膜成長
- 31aWD-13 LiBr 超薄膜の STM 観察
- 表面不活性基板を利用した有機・無機ナノ構造の形成(ナノ結晶)
- 29pPSA-31 Bilayer-GaSe終端Si(111)表面のSTM観察
- 層状物質基板
- 24pPSA-28 Bilaye-GaSe上に形成したGa量子ドットの電子分光
- 24pPSA-24 Bilayer-GaSe終端Si(111)基板の表面構造解析と薄膜成長への応用
- 22aWA-7 C_/Si(111)系におけるC(1s)内殻励起スペクトル
- OME2000-51 異種原子終端Si基板上でのフラーレン分子のエピタキシー
- 23aT-6 MoS_2基板上III-VI層状化合物半導体超薄膜の成長機構
- 22aW-5 (C_,K)/Si(111)系の電子エネルギー損失スペクトル
- 26aPS-34 Si基板上へのGa_2Se_3薄膜のエピタキシャル成長と電子分光測定
- 26aPS-13 Si(111)-√x√Ag表面上に作製したC_単層膜の高分解能電子エネルギー損失スペクトル
- 24aZ-6 Si(111)-7×7および(100)-2×1表面上に作製したC_単層膜の電子エネルギー損失スペクトル
- 30p-BPS-2 ヘテロエピタキシャル成長した層状物質のSTMによる評価
- 研究ニュース
- 13pWH-8 高誘電率ゲート酸化膜を用いた有機 FET の動作特性(FET, 領域 8)
- 13pWH-8 高誘電率ゲート酸化膜を用いた有機 FET の動作特性(FET, 領域 7)
- 20pYC-14 アルカリハライド/金属ヘテロ構造の STM 観察
- 22pXG-1 異方的成長条件下で成長したペンタセン薄膜を用いた有機 FET
- 31a-S-12 不活性基板表面上に成長したC-単層膜の電子エネルギー損失スペクトル
- 27a-PS-64 層状物質基板上エピタキシャルC_薄膜の構造解析
- Scanning Tunneling Microscope Observation of the Metal-Adsorbed Layered Semiconductor Surfaces
- Heteroepitaxial Growth of Layered GaSe Films on GaAs(001) Surfaces
- 27p-PSA-7 ヘテロ成長した層状物質のHREELSによる評価
- A 0.7-μm-Pitch Double Level Al Interconnection Technology for 1-Gbit DRAMs using SiO_2 Mask Al Etching and Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition SiOF
- A Reliable Double Level Interconnection Technology for Giga Bit DRAMs Using SiO_2 Mask Al Etching and PECVD SiOF
- A novel method to fabricate a molecular quantum structure: Selective growth of C-60 on layered material heterostructures
- Fabrication of GaAs quantum dots on a bilayer-GaSe terminated Si(111) substrate
- 24aZ-1 アルカリハライド/半導体ヘテロ接合の光電子イールド測定(II)
- 28p-S-9 アルカリハライド/半導体ヘテロ接合の光電子イールド測定
- 表面を選ぶサッカーボール
- 26p-YR-6 MoS_2基板上InSeヘテロエピタキシャル超薄膜の成長機構
- 選択成長法による分子性結晶ナノ構造の形成
- 7a-PS-58 層状物質基板上での有機分子性結晶選択成長
- Nanostructure fabrication using selective growth on nanosize patterns drawn by a scanning probe microscope
- 31a-T-12 2D layered material buffer layers in large lattice mismatch heterostructures:The system CdS/InSe/Si
- 29a-PS-31 ヘテロ成長したIII-VI層状化合物半導体薄膜表面のSPM観察
- C_エピタキシャル薄膜の初期成長過程
- Heteroepitaxial Growth of Layered Semiconductor GaSe on a Hydrogen-Terminated Si(111) Surface
- 29p-PS-18 水素終端処理したSi基板上へのファンデアワールス・エピタキシー