斉木 幸一郎 | 東大院創域
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概要
関連著者
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斉木 幸一郎
東大院創域
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飯泉 謙一
東大院理
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小間 篤
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小間 篤
Department Of Chemistry The University Of Tokyo
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上野 啓司
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小間 篤
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西川 洋行
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内野 康則
東大院理
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上野 哲司
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斉木 幸一郎
東大理
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Ueno K
Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation
著作論文
- 24aZ-6 Si(111)-7×7および(100)-2×1表面上に作製したC_単層膜の電子エネルギー損失スペクトル
- 24aF-11 KドープC_薄膜の内殻励起電子エネルギー損失スペクトル
- TiX_2(X=S, Se)成長膜の形状と、成長条件による影響