26aPS-34 Si基板上へのGa_2Se_3薄膜のエピタキシャル成長と電子分光測定

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1999-09-03

著者

• 上野 啓司

  東大院理

• 飯泉 謙一

  東大院理

• 斉木 幸一朗

  東大院創域

• 小間 篤

  東大院理

• 上野 啓司

  埼玉大理

• 中原 伴徳

  東大院理

• Dai Z.R.

  Univ.Washington

• 大内 二三夫

  Univ.Washington

• 小間 篤

  Department Of Chemistry The University Of Tokyo

• 飯泉 謙一

  東大院新領域

• Ueno K

  Ulsi Device Development Laboratories Nec Corporation

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