115 高誘電率絶縁薄膜と金属電極薄膜積層構造界面の健全性支配因子の解明(学生賞III,一般講演)
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概要
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- 2010-03-12
著者
-
鈴木 研
東北大学大学院工学研究科附属エネルギー安全科学国際研究センター
-
三浦 英生
東北大学大学院工学研究科附属エネルギー安全科学国際研究センター
-
三浦 英生
東北大
-
井上 達也
東北大学大学院工学研究科附属エネルギー安全科学国際研究センター
-
鈴木 研
東北大
-
井上 達也
東北大
-
三浦 英生
東北大学
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