High-k/Metal-gate界面健全性に及ぼす点欠陥と格子ひずみの相互作用の原子レベルシミュレーション(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

スポンサーリンク

概要

著者

関連論文

もっと見る

スポンサーリンク