硬X線光電子分光法による素子薄膜のバルク敏感電子状態評価

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概要

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•   Hard X-ray photoemission spectroscopy (HXPS) with high-resolution, high-throughput and large photoelectron attenuation length has been developed at SPring-8 utilizing high brilliant undulator X-rays. This enhanced versatility of the photoemission spectroscopy, enabling to apply to laboratory prepared thin films and nano-structured samples of advanced materials. We will introduce wide varieties of experimental results on advance materials performed at JASRI public beamline BL47XU and NIMS contract beamline BL15XU of SPring-8.

• 日本真空協会の論文
• 2009-12-20

著者

• 小林 啓介

  物材機構

• 池永 英司

  Crest・jst

• 小林 啓介

  (独)物質・材料研究機構共用ビームステーション

• 池永 英司

  (財)高輝度光科学研究センター

• 小林 啓介

  (独)物質・材料研究機構

• 池永 英司

  高輝度光科学研究センター:科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業

• 池永 英司

  Jasri/spring-8

• 池永 英司

  財団法人高照度光科学研究センター

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