OS0302 カーボンナノチューブ応用二次元ひずみ分布計測センサの試作(OS3-1 ひずみ,OS-3 非破壊評価と構造モニタリング1)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
A new highly sensitive strain measurement method has been developed by applying the change of the electronic conductivity of CNTs. Multi-walled CNTs were dispersed in various kinds of resins such as epoxy, polycarbonate, and polyisoprene to form a thin film which can be easily attached to rounded surfaces. The length and diameter of the CNTs were about 5 μm and 50 nm, respectively. One of the base materials of resin employed was polycarbonate and the volumetric concentration of CNT dispersed was about 11.5%. The thickness of the film was about 500 μm. Uni-axial strain was applied to the CNT-dispersed resin by applying a 4 point bending method, and the change of the electric resistance was measured. The range of the applied strain was from -0.025% to 0.025%. The electric resistance changed almost linearly with the applied strain. The ratio of the resistance change under the tensile strain was about 400%/%strain and that under the compressive strain was about 150%/%strain. Two-dimensional strain fields were evaluated by using finely area-arrayed CNT-dispersed resin made by MEMS technology with spatial resolution of 50 μm.
- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 2011-07-16
著者
-
大西 正人
東北大院
-
大橋 悠輔
東北大工
-
鈴木 悠介
東北大院
-
三浦 英生
東北大学大学院工学研究科附属エネルギー安全科学国際研究センター
-
三浦 英生
東北大通研
-
大西 正人
東北大学
-
鈴木 研
東北大学エネルギー安全科学国際研究センター
-
三浦 英生
東北大学エネルギー安全科学国際研究センター
-
鈴木 悠介
東北大学
-
大橋 悠輔
東北大学
関連論文
- 101 次世代半導体モジュールの局所変形と残留応力の測定(若手優秀講演フェロー賞対象講演(1))
- 104 Ni基超合金の高温損傷メカニズムの解明と耐熱特性向上法の検討(若手優秀講演フェロー賞対象講演(1))
- 111 レーザ素子を使用した動ひずみの遠隔計測に関する基礎検討(若手優秀講演フェロー賞対象講演(2))
- High-k/Metal-gate界面健全性に及ぼす点欠陥と格子ひずみの相互作用の原子レベルシミュレーション(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 112 めっき銅薄膜のエレクトロマイグレーション耐性の微細組織依存性(若手優秀講演フェロー賞対象講演(2))
- 102 多層カーボンナノチューブ分散ゴムによる大変形計測の検討(若手優秀講演フェロー賞対象講演(1))
- 143 鉛フリーはんだ/めっき銅薄膜金属間化合物の機械的特性(材料力学III)
- 203 鉛フリーはんだ/めっき銅薄膜金属間化合物の機械的特性(材料力学I,材料力学)
- 199 クリープおよび疲労損傷を受けたNi基超合金の経年劣化評価とその再生熱処理技術(機械材料・材料加工)
- 103 めっき銅薄膜配線マイグレーション耐性の微細組織依存性(若手優秀講演フェロー賞対象講演(1))
- 405 レーザー光応用非接触ひずみ計測法に関する基礎検討(材料力学1)
- 111 異種材料界面近傍における応力起因異方的原子拡散メカニズムの基礎検討(若手優秀講演フェロー賞対象講演(2))
- 110 多層カーボンナノチューブ分散ゴムによる大変形ひずみ計測の検討(若手優秀講演フェロー賞対象講演(2))
- 1213 Ni耐熱合金の高温強度特性に及ぼす微量添加元素の影響(S05-3 ナノ・マイクロ材料の強度・信頼性(3)ナノ・マイクロ材料の強度物性評価,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 1212 圧縮ひずみ負荷による多層CNTの変形挙動解析(S05-3 ナノ・マイクロ材料の強度・信頼性(3)ナノ・マイクロ材料の強度物性評価,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 1201 めっき銅薄膜の疲労強度特性の熱履歴依存性(S05-1 ナノ・マイクロ材料の強度・信頼性(1)銅薄膜の強度物性,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 140 微細貫通孔形成銅めっき膜による走行車両負荷振幅測定の検討(材料力学II)
- 139 めっき銅薄膜疲労強度の微細組織依存性(材料力学II)
- 113 薄膜配線用めっき銅薄膜電気機械特性の微細組織依存性(学生賞III)
- 28a-SB-34 鉄系超急冷薄帯の磁気特性
- 107 応力依存異方原子拡散に基づくNi基耐熱合金の高温損傷(学生賞II)
- 201 半導体用高誘電率薄膜の絶縁特性のひずみ依存性(材料力学I,材料力学)
- 123 繰り返し負荷による銅めっき膜中の結晶成長メカニズム(材料力学I)
- 113 めっき銅薄膜強度物性のナノスケール微細組織依存性(学生賞III)
- 503 半導体用高誘電率薄膜の絶縁特性の結晶欠陥依存性(材料工学I,機素潤滑設計,材料工学,設計工学)
- 103 実装応力起因の光モジュール信号伝送品質劣化メカニズム(学生賞I,環境工学/学生賞I)
- 202 多層CNT分散樹脂電気抵抗のひずみ依存性(材料力学I,材料力学)
- J0601-3-2 エリアアレイ型フリップチップ実装局所残留応力のアンダーフィル材質依存性([J0601-3]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(3))
- OS1202 圧縮負荷環境におけるカーボンナノチューブ変形特性に及ぼすカイラリティの影響(ナノ・マイクロからの視点からの変形と破壊の力学(1),オーガナイズドセッション)
- OS1201 圧縮負荷環境におけるカーボンナノチューブ変形特性に及ぼす形状効果の検討(ナノ・マイクロからの視点からの変形と破壊の力学(1),オーガナイズドセッション)
- OS0604 Ni耐熱合金における応力依存異方拡散現象と微量添加元素の影響(OS06-01 マルチスケール解析1,OS06 微視構造を有する材料の変形と破壊(1))
- J0601-3-1 めっき銅薄膜配線の強度信頼性に及ぼす微細組織の影響([J0601-3]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(3))
- OS0620 めっき銅薄膜疲労強度特性に及ぼす結晶粒界性状の影響(OS06-05 材料強度の発現機構,OS06 微視構造を有する材料の変形と破壊(3))
- OS0116 多層カーボンナノチューブ分散樹脂のひずみセンサへの適用可能性の基礎検討(OS01-04 画像処理・ひずみ,OS01 非破壊評価と構造モニタリング(2))
- 1703 グラフェンシートの電気伝導特性に及ぼすひずみの影響(OS17. 電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション講演)
- 1704 カーボンナノチューブの電気伝導特性変化の非接触計測法(OS17. 電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション講演)
- 1112 分子動力学解析による異相界面近傍におけるひずみ誘起異方拡散現象の検討(OS11. 材料の組織・強度に関するマルチスケールアナリシス(3),オーガナイズドセッション講演)
- 109 Ni基超合金の耐熱特性向上に関する原子レベル解析(若手優秀講演フェロー賞対象講演(3))
- 606 めっき銅薄膜配線のストレスマイグレーション耐性(OS6-1 シリコン貫通ビア技術と強度信頼性)
- 130 異種材料界面におけるひずみ誘起異方的増速拡散現象(材料力学I,一般講演)
- 1215 カーボンナノチューブ電気伝導特性に及ぼすひずみの影響(OS12-5 実験・計測における先端技術とその応用-新手法とセンサ-)
- 1509 異相界面近傍の応力起因異方原子拡散に基づくNi基超合金微視組織構造の破壊(OS15-3 ナノ・マイクロの視点からの変形と破壊の力学)
- 107 めっき銅薄膜機械特性の熱履歴依存性(若手優秀講演フェロー賞対象講演(3))
- 115 高誘電率絶縁薄膜と金属電極薄膜積層構造界面の健全性支配因子の解明(学生賞III,一般講演)
- 114 カーボンナノチューブ電気伝導特性に及ぼす局所ひずみの影響(学生賞III,一般講演)
- 108 ナノスケールトランジスタ製造工程の残留応力変動計測(若手優秀講演フェロー賞対象講演(3))
- 116 ナノスケールトランジスタ残留応力変化の製造工程内モニタリングに関する研究(学生賞III,一般講演)
- 熱処理がコールドスプレー銅積層体の機械的特性に与える影響
- 143 オーステナイト系ステンレス鋼酸化皮膜の高温水中組織変化に関する原子レベルシミュレーション(材料力学III,一般講演)
- PS12 埋め込みひずみゲージ法による薄膜微細加工誘起応力の評価(フェロー賞対象ポスターセッション)
- 135 めっき銅薄膜を用いた回転体表面ひずみ振幅の評価(材料力学II,一般講演)
- 1503 めっき銅薄膜の結晶粒界性状と強度物性(OS15-1 ナノ・マイクロの視点からの変形と破壊の力学)
- 134 めっき銅薄膜の疲労強度に及ぼす結晶粒界性状の影響(材料力学II,一般講演)
- コールドスプレー法で作製した銅皮膜の熱処理特性に関する研究
- 412 改良9Cr-1Mo鋼の高温高サイクル疲労寿命評価(疲労II,高温材料の変形・破壊・損傷評価と実機への適用,オーガナイスドセッション2)
- パワーエレクトロニクス製品の実装信頼性評価技術の現状と課題
- 銅めっき薄膜機械特性の微細組織依存性
- カーボンナノチューブやグラフェンシートの電子バンド構造に及ぼす三次元ひずみ場の影響解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 半導体実装用めっき銅薄膜強度物性の微細組織依存性(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文)
- 115 変動負荷環境下におけるめっき銅薄膜の結晶組織変化(材料力学I,一般講演)
- OS2403 めっきバンプ強度吻性制御による低応力三次元実装構造の検討(OS24-1 三次元積層半導体チップにおけるシリコン貫通ビア/微細金属接合技術と強度信頼性,OS-24 三次元積層半導体チップにおけるシリコン貫通ビア/微細金属接合技術と強度信頼性)
- OS0303 カーボンナノチューブ応用遠隔ひずみ計測去の検討(OS3-1 ひずみ,OS-3 非破壊評価と構造モニタリング1)
- OS0302 カーボンナノチューブ応用二次元ひずみ分布計測センサの試作(OS3-1 ひずみ,OS-3 非破壊評価と構造モニタリング1)
- OS1612 薄膜多結晶材料の粒界性状評価と強度物性との相関性(OS16-2 微視的な視点からの変形と強度,OS-16 ナノ・マイクロの視点からの変形と破壊の力学)
- J031051 低応力三次元フリップチップ実装構造の検討([J03105]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(5))
- J031053 めっき銅薄膜配線のストレスマイグレーション支配因子の解明([J03105]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(5))
- OS1611 薄膜積層界面におけるひずみ誘起異方拡散現象と微細組織の変化(OS16-2 微視的な視点からの変形と強度,OS-16 ナノ・マイクロの視点からの変形と破壊の力学)
- J031052 ナノスケールトランジスタ製造工程における残留応力変動計測([J03105]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(5))