T0302-2-2 顕微ラマン分光を用いた単結晶シリコン振動子の局所応力解析([T0302-2]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2):応力・ひずみ計測)
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概要
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This paper describes a method for analyzing local stress in resonating single-crystal silicon (SCS) microstructures using micro Raman spectroscopy. The support beams of fan-shaped resonators with five different crystallographic orientations are used as specimens. The beam dimensions are same, which are 30μm long, 10μm wide and 5μm thick and it has a 4-μm-deep notch in its center. Raman spectra at the notch tips were measured during resonant vibrations. The observed spectra are broadened by stress oscillation. These spectra broadening are theoretically analyzed by time integration of no-stress spectra with stress distribution analysis using finite element method. The analyzed and measured spectra of the (100) Si specimens showed good agreement, which indicates the validity of this stress measurement method.
- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 2010-09-04
著者
-
平井 義和
京都大学
-
田畑 修
京都大学
-
田畑 修
京都大学 工学研究科
-
田畑 修
立命館大学 理工学部 機械工学科
-
土屋 智由
京都大学
-
平井 義和
京都大学大学院工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
-
土屋 智由
(株)豊田中央研究所
-
池原 毅
産総研
-
田畑 修
京都大学大学院 工学研究科
-
土屋 智由
豊田中央研究所 半導体デバイス・センサ研究室
-
土屋 智由
京都大学大学院
-
土屋 智由
大学院工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
-
土屋 智由
株式会社豊田中央研究所
-
平井 義和
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻ナノ・マイクロシステム工学研究室
-
田畑 修
立命館大学理工学部機械工学科
-
菅野 公二
京大院
-
土屋 智由
京大院
-
田畑 修
京大院
-
谷山 彰
京大院
-
平井 義和
京大院
-
菅野 公二
京都大学大学院工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
-
土屋 智由
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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