29pPSB-54 光電子分光による微斜面SiC上の数層grapheneの電子状態測定(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2009-03-03
著者
-
田中 悟
九大院工
-
白澤 徹郎
東京大学物性研究所
-
中辻 寛
東大物性研
-
小森 文夫
東大物性研
-
森田 康平
九大院工
-
水野 清義
九大院総理工
-
小森 文夫
東京大学物性研究所
-
白澤 徹郎
東大物性研
-
柴田 祐樹
東大物性研
-
田中 悟
九州大学大学院工学研究院
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