26pPSB-34 表面X線回折法によるSiC(000-1)上のエピタキシャルグラフェンの界面構造の研究(26pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2012-03-05

著者

• 田中 悟

  九大院工

• 白澤 徹郎

  東大物性研

• 高橋 敏男

  東大物性研

• 萩原 好人

  九大院工

• 大山 真実

  東大物性研

• 角田 潤一

  東大物性研

• Srey Chenda

  九大院工

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